К сожалению, Ваш браузер сильно устарел. Используйте, пожалуйста, Mozilla Firefox, Google Chrome или IE10+.
Центр коллективного пользования

Центр коллективного пользования «Технологический и диагностический центр для производства, исследования и аттестации микро и наноструктур»

Главной целью ЦКП является повышение уровня научных исследований путем формирования современных исследовательских комплексов
в области нанотехнологий, отвечающих мировым стандартам по техническим и эксплуатационным характеристикам приборного состава.

Модуляционный интерференционный микроскоп - МИМ 321


Предназначен для исследования свойств материалов, позволяет получить фазовый портрет микрообъекта, то есть распределение оптической разности хода лучей в интерферометре, соответствующее геометрическому рельефу измеряемого объекта. Сверхвысокое оптическое разрешение. Количественная 3D информация об оптических и геометрических свойствах измеряемого объекта. Возможность исследования динамических характеристик объекта. Возможность визуализации оптических анизотропных структур со сверхвысоким разрешением.
Стоимость работ 1600 р/ч.

Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM-710-NLO (Carl Zeiss, Германия)


Способен решать обширный спектр исследовательских задач, идеально подходит для высокочувствительных флуоресцентных исследований по глубине живых образцов или организмов. Возможны следующие применения: временные серии изображений, мультифлуоресцентное изображение, спектральное разрешение флуоресцентного сигнала, количественная колоколизация, микроскопия в проходящем свете, FRET анализ.
Комплектация:
Сканирующий модуль LSM 710 представлен двумя GaAsP одноканальными высокочувствительными детектора и 32-х канальным спектральным детектором, что позволяет параллельно захватывать флуоресцентный сигнал в диапазоне 400-750 нм. 32-х канальный спектральный детектор позволяет выбирать диапазон регистрации сигнала с разрешением до 3 нм (последоват. сканирование) и 10 нм (параллельное сканирование). Детектор проходящего света.Три NDD детектора.Моторизованный конфокальный pinhole с плавной регулировкой диаметра и координат.Лазеры для возбуждения флуоресценции: Ar-лазер (458, 488, 514 нм) 25 мВт; DPSS-лазер (561 нм) 20 мВт; HeNe-лазер (633 нм) 5 мВт; фемтосекундный лазер Chameleon Ultra II (Coherent, США) с перестраиваемым диапазоном длин волн 690-1060 нм, 140 фс, 80 МГц, 0.2-3.5 Вт для мультифотонного возбуждения флуоресценции.
Стоимость работ 1600 р/ч.

Атомно-силовой микроскоп


Предназначен для исследования геометрии поверхности металлов, полупроводников, керамики и других не органических веществ.
Разрешение по X-Y 10 нм, разрешение по Z 1 нм.
Стоимость работ 2200 р/ч

CPS Disc Centrifuge. CPS Instruments, Inc.


Центрифуга CPS Disc

Центрифуга CPS Disc представляет собой полную систему анализа размеров частиц с высоким разрешением. Диапазон размеров частиц от 0,005 до ~75 микрон.
Стоимость работ 1200 р/ч.

Bruker D8 Discover A25 DaVinsi Design



Рентгеновский дифрактометр общего назначения Bruker D8 Discover A25 DaVinsi Design. Предназначен для исследования структуры материалов. Позволяет определить фазовый состав, параметры элементарной ячейки, размеры нанокристаллитов для поликристаллических и порошковых образцов. Ориентация монокристаллов. Высокотемпературная камера HTK 1200N позволяет проводить измерения от комнатной температуры до 1200 0С на воздухе и в вакууме.
Стоимость работ 3600 р/ч.

Ультразвуковой вырезатель дисков фирмы GATAN


Электронный микроскоп LIBRA 200 FE HR


Основные технические характеристики:

Стоимость работ 1500 р/ч.

Ионная мельница Fischione 1010 Ion Mill


Назначение:
ионное травление и полировка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей электронной микроскопии.
Диапазон угла фрезеровки: от 0° до 45°
Рабочий газ: аргон
Диапазон напряжений и токов ионного источника: 0.7 – 6 кВ,  3 – 8 мA
Плотность тока: 400 microamps/cm2
Стоимость работ 800 р/ч.

Leica EM TIC020 - Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину

Leica EM TIC020 - Система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину. Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения EDS, WDS, Auger и EBSD анализа.
Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10 мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп
Стоимость работ 1300 р/ч.

Leica EM TXP - Универсальная система для механической подготовки поверхности


Leica EM TXP – Универсальная система для механической подготовки поверхности
Leica EM TXP - универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности  образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований.
Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировка угла наклона держателя образцов  –  0° - 60° (по отношению к оси вращения фрезы) обеспечивает полный контроль процесса подготовки образца
 После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.
Стоимость работ 900 р/ч.

Электронный микроскоп LIBRA 200 FE HR


Основные характеристики микроскопа:

Ускоряющее напряжение: 200 кВ

Увеличение:

Предельное разрешение:

Разрешение спектрометра СХПЭЭ (EELS):

Методы:

Области применения:

Стоимость работ 1600 р/ч.

Cверхвысоковакуумный СТМ GPI-300.02


GPI-300 представляет собой сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп, позволяющий получать атомно-разрешенные изображения проводящей поверхности при комнатной температуре образца. Прибор может быть использован для изучения любых поверхностных процессов в режиме in vivo. Данный прибор имеет целый ряд отличительных черт, позволяющих легко использовать его в комбинации с другими методами анализа или технологии в контролируемых условиях сверхвысокого вакуума.
В частности,

Области применения:

Стоимость работ 3600 р/ч.

Научно-исследовательский нанотехнологический комплекс "Riber SSC2" на основе сверхвысоко-вакуумного центра для исследования поверхности.


Научно-исследовательский нанотехнологический комплекс на основе сверхвысоковакуумного центра для исследования поверхности Riber SSC2 (камера молекулярно-лучевой эпитаксии — Riber EVA 32), интегрированного со сверхвысоковакуумным сканирующим туннельным микроскопом GPI-300.

Данный комплекс уникален для России и является одним из немногих столь же мощных исследовательских инструментов в мире. Он введен в эксплуатацию в 2006 г. В состав комплекса, созданного в ИОФ РАН на базе сверхвысоковакуумного (СВВ) центра для исследования поверхности Riber SSC2, входят:

Комплекс позволяет последовательно исследовать образец различными физическими методами, производить технологические обработки, снова исследовать образец и т.д. При этом образец никогда не покидает условий СВВ. Исследования методом ДБОЭ могут проводиться во время технологических процессов (in situ). Поскольку образец не покидает условий СВВ, его исследования методом СТМ до и после обработок проводятся с атомным разрешением. Качество СТМ столь высоко, что атомное разрешение реализуется как на гладкой поверхности образца (например, на чистой поверхности монокристаллического Si или Ge), так и при исследовании объектов с высокой шероховатостью, таких как массивы квантовых точек или нанокристаллические пленки. Из сказанного выше ясно, что данный инструмент наивысшим в РФ качеством на пределе возможностей современного научного оборудования.

Стенд для измерения спектральной зависимости чувствительности элементов матричных ИК фотодетекторов.


Стенд для измерения спектральной зависимости чувствительности элементов матричных ИК фотодетекторов.

Установка измерения параметров элементов матричных ИК фотодетекторов по ГОСТ 17772-88.

HTML5 mode - 2018-11-15 21:59:54 - 54.234.228.185 - ru